1号彩票

欢迎光临东莞市台易电子科技有限公司网站!
English
专业半导体测试探针
直营中心LEENO
业务专线:13790656971
TEL:0769-33698233
4公司动态
您的位置:首页  ->  公司动态 -> 多颗模组三层测试治具简介

多颗模组三层测试治具简介


多颗模组三层测试治具,主要用于多颗模组的影像、烧录、标定等测试。
1.三层治具能有效解决两层治具连接器容易压伤的问题;
2.模组水平测试,治具竖直摆放时,能防止产品掉料;
3.一个治具,同时放两颗或者多颗模组测试,能有效提高测试效率,节约治具成本;
4.治具采购双卡勾/多卡勾,方便开合盖,减少治具缝隙,保证测试稳定性;
5.每个模组均单独限位,针盘做成独立结构,保证治具测试稳定性;
6.模组限位部分做成镶块结构,方便更换维护;
7.针座部分采用浮动结构,能有效地保护探针,从而延长探针使用寿命;
8.治具包含开盖检测功能,能有效防止撞机,避免对治具及机台造成损伤;
9.根据不同机台的测试要求,治具可分为LENS朝上或者朝下测试两种结构。

[返回]   
网站首页  关于台易  产品展示  荣誉证书  工厂设备  合作客户  常见问题  公司动态  行业资讯  在线留言  联系我们
东莞市台易电子科技有限公司 版权所有 开元棋牌husoli.com版权所有 2017 【BMAP】【GMAP】 访问量:
服务热线:0769-33698233  联系人:13790430966/涂先生 【后台管理】 粤ICP备17061266号-1 粤ICP备17061266号-1 【百度统计】
*本站相关网页素材及相关资源均来源互联网,如有侵权请速告知,我们将会在24小时内删除*技术支持:【东莞网站建设】
  • 返回顶部
  • 13790430966
  • 台易App二维码
    微信二维码
  • 台易公众号
    微信二维码
友情链接:28彩票  赢天下彩票  28彩票注册  赢天下彩票  28彩票  赢天下彩票  

免责声明: 本站资料及图片来源互联网文章,本网不承担任何由内容信息所引起的争议和法律责任。所有作品版权归原创作者所有,与本站立场无关,如用户分享不慎侵犯了您的权益,请联系我们告知,我们将做删除处理!